Vous êtes ici : Accueil / Equipement / Spectromètre XPS K-Alpha

Spectromètre XPS K-Alpha

 

Echantillons solides, compatibles UHV.

Épaisseur max : 20 mm

Conducteurs ou isolants.

Analyses par photoémission induite par rayons X.

  • En un point, sur une ligne, sur une surface (mapping)
  • Analyse en profondeur possible par AR-XPS (quelques nm & non destructif) ou érosion ionique.
Contact : Pierre Louette (ELISE) - + 32 81 72 45 89